rt-thread/bsp/wch/risc-v/ch32v307v-r1/applications/main.c

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2022-08-24 09:51:35 +08:00
/*
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*/
#include <rtthread.h>
#include <rtdevice.h>
[libcpu][riscv]整合libcpu/riscv中的移植文件 提供一份公共代码于common (#6941) 整合libcpu/riscv中的移植文件 提供一份公共代码于common 在提交本pr时,除hpmicro的内核,rv32内核bsp已完成去除大部分的冗余,大部分代码采用common中的实现。本pr的作用是进一步统一common中的文件,从而提供一份公用代码,新移植的RV32内核的BSP可以全部使用common代码。 - 在common中提供一份公用文件:interrupt_gcc.S - 修改原有的文件,将原有的中断中上下文切换代码替换为interrupt_gcc.S - 基于上述修改,修改仓库中risc-v内核的BSP与移植相关的部分 (主要包含中断入口函数 中断栈等) - 在common中提供一份公用文件:trap_common.c;提供统一中断入口函数,中断入口函数初始化,中断入口注册等函数,并完善异常时的信息输出 - 在common中提供一份公用文件:rt_hw_stack_frame.h;将栈帧结构体剥离,供用户使用 - 在上述工作完成后,在上述工作的基础上测试仓库中risc-v内核的BSP - 完善函数中的命名,完善中断栈的获取 - 提供一份详细的基于现有common文件的移植指南 #### 在什么测试环境下测试通过 - 1.CH32V307V-R1-R0 - 2.CH32V208W-R0-1V4 - 3.HPM6750EVKMINI - 4.GD32VF103V-EVAL - 5.qemu(CORE-V-MCU ) > 与上述开发板使用同样芯片的BSP均测试通过 在CH32V307V-R1-R0与HPM6750EVKMINI上基于现有移植文件进行多线程复杂场景下的长时间测试,测试过程系统运行正常。
2023-03-01 14:32:43 +08:00
#include "ch32v30x.h"
/* defined the LED0 pin: PB5 */
#define LED0_PIN rt_pin_get("PB.5")
2022-08-24 09:51:35 +08:00
int main(void)
{
/* set LED0 pin mode to output */
rt_pin_mode(LED0_PIN, PIN_MODE_OUTPUT);
2022-08-24 09:51:35 +08:00
while (1)
{
rt_pin_write(LED0_PIN, PIN_HIGH);
rt_thread_mdelay(500);
rt_pin_write(LED0_PIN, PIN_LOW);
rt_thread_mdelay(500);
2022-08-24 09:51:35 +08:00
}
}